CARACTERISATION
Microscopie: Le MEB
Pourquoi utiliser le MEB pour caractériser mes échantillons ?
La microscopie électronique à balayage est LA technique de caractérisation de topographie par excellence capable de produire des images haute résolution de la surface de l’échantillon. Elle exploite l’interaction électron/matière, en effet un faisceau d’électron balaie la surface, qui en réponse réemet certaines particules qui sont collectées par des détecteurs permettant ainsi de reconstruire l’image en 3 dimensions de la surface.
Le MEB fait partie des outils indispensables aux centres de recherche afin étudier la surface des matériaux.
Quelles informations me donnent le MEB sur mon matériau ?
Les particules réémises sont multiples: électrons secondaires, retrodiffusés, rayons X, auger, chacune d’elle donne des informations sur: la topograpie de surface, le type de liaison chimique entre les atomes, et enfin l’analyse chimique qualitative et quantitative de l’atome.
Quelle expertise nous proposez vous ?
Celui d’un très gros fabricant mondial: TESCAN ainsi que notre grande expérience dans le domaine.
VEGA COMPACT
TESCAN VEGA Compact offre une solution MEB analytique complète pour les laboratoires qui accordent la priorité à la fois à la facilité d’utilisation et à la rapidité d’obtention d’images de haute qualité et d’analyses compositionnelles (EDS).
Il présente une configuration simplifiée intégrant uniquement les composants les plus critiques pour une capture efficace des données morphologiques et chimiques.
Sa platine est capable d’accueillir des échantillons de grande taille, chose courante dans l’industrie, la science des matériaux et les semi-conducteurs – comme les sections transversales métallurgiques, les structures soudées ou les cartes de circuits imprimés –
VEGA
Le microscope électronique à balayage de 4e génération TESCAN VEGA avec source d’électrons à filament de tungstène combine l’imagerie MEB et l’analyse de la composition élémentaire simultanément dans une seule fenêtre du logiciel Essence™ de TESCAN.
Cette combinaison simplifie considérablement l’acquisition des données morphologiques et élémentaires de l’échantillon, faisant du microscope électronique VEGA une solution analytique efficace pour l’inspection de routine des matériaux dans les laboratoires de contrôle qualité, d’analyse des défaillances et de recherche.
MIRA
Le microscope électronique à balayage de 4e génération TESCAN MIRA avec source d’émission d’électrons FEG Schottky combine l’imagerie MEB haute résolution et l’analyse de la composition élémentaire en direct dans une seule fenêtre du logiciel Essence™ de TESCAN.
Cette combinaison simplifie considérablement l’acquisition des données morphologiques et élémentaires de l’échantillon, faisant du microscope électronique MIRA une solution analytique efficace pour l’inspection de routine des matériaux dans les laboratoires de contrôle qualité, d’analyse des défaillances et de recherche.
Microscopie: L’AFM
Pourquoi utiliser l’AFM pour caractériser mes échantillons ?
Le microscope à force atomique est une technique dite de champ proche, elle exploite l’interaction (attraction/répulsion) entre les atomes d’une pointe et les atomes situés à la surface de l’échantillon. Elle permet d’analyser des zones allant de quelques nanomètres à quelques microns de cotés et de mesurer des forces de l’ordre du nanoNewton.
De plus, elle ne nécessite pas de préparation invasive, et n’entraîne donc pas la destruction du substrat.
L’AFM fait partie des outils indispensables aux centres de recherche afin étudier la surface des matériaux.
Quelles informations me donnent l’AFM sur mon matériau ?
L’AFM permet de réaliser des images 3D de nano-objets et de vos surfaces. Il permet la cartographie de propriétés physiques : Mécanique, Magnétique, et Électrique. Il fournit non seulement des données de métrologie spatiale, mais il est possible aussi de réaliser des nano-modifications de surface: par manipulation de surface ou lithographie douce.
Quelle expertise nous proposez vous ?
Un seul nom: BRUKER, LE leader mondial dans le domaine !
INNOVA
Le microscope à force atomique Innova® (AFM) offre une grande flexibilité d’application pour la recherche scientifique la plus exigeante à un coût modéré. Avec son ensemble de fonctionnalités hautement personnalisables, Innova propose ce qui se fait de mieux pour l’imagerie haute résolution et une large gamme
de fonctionnalités dans la recherche en sciences physiques, de la vie et des matériaux.
DIMENSION ICON
L’AFM Dimension Icon® apporte les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d’accessibilité à l’échelle du nanomètre, pour les chercheurs dans les domaines de la science et de l’industrie. S’appuyant sur la plus grande plateforme porte échantillon pour un AFM, cet équipement est l’aboutissement de décennies d’innovation technologique, d’échanges avec nos clients et apporte une grande flexibilité d’application, à la pointe de ce qui se fait de mieux aujourd’hui.
DIMENSION EDGE
Le Dimension Edge™ intègre la technologie PeakForce Tapping® de Bruker pour fournir les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d’accessibilité pour un AFM.
Basé sur la plate-forme du Dimension Icon, le système Edge a été entièrement conçu pour fournir à vos scans une très faible dérive ainsi qu’un faible bruit, le tout à un prix très compétitif au vu des performances proposées.
Mesures et Tests
Qu’est ce que la tribologie et quel est son domaine d’application ?
La tribologie étudie les phénomènes susceptibles de se produire entre deux systèmes matériels en contact, immobiles ou animés de mouvements relatifs. Cette technique trouve son utilité dans tous les domaines de la vie courante, partout où l’on doit étudier le vieillissement des matériaux.
Qu’est ce que la profilométrie ? Quelle différence entre la méthode mécanique et optique ?
Un profilomètre est un instrument utilisé pour mesurer le relief d’une surface, notamment dans le but d’en évaluer la rugosité ou la micro-géométrie.
La profilométrie optique basée sur la réflexion d’un signal lumineux sur une surface, permet d’observer la topographie de cette surface sur des gammes de mesures allant de quelques dizaines de µm² à quelques mm², avec une résolution latérale optique.
Quelle expertise nous proposez vous ?
Bruker est le leader mondial de la mesure et de l’inspection de surfaces en 3D, offrant des analyses rapides et sans contact pour des échantillons dont la taille va du MEMS aux blocs moteurs entiers. Nos profilomètres optiques sont l’aboutissement de dix générations d’avancées technologiques exclusives Wyko® qui offrent la sensibilité et la stabilité élevées nécessaires pour des mesures de surface 3D de précision dans des applications et des environnements difficiles pour d’autres systèmes de métrologie.
Les profileurs de stylet Dektak® de Bruker sont l’aboutissement de plus de cinq décennies d’avancées technologiques exclusives. Ils fournissent des mesures reproductibles, fiables et précises, des mesures traditionnelles de hauteur de marche et de caractérisation de surface de rugosité 2D à la cartographie 3D avancée et aux analyses de contrainte de film. Les profileurs de surface Dektak ont été largement acceptés comme l’étalon-or pour mesurer l’épaisseur, la contrainte, la rugosité de surface et la forme des couches minces dans divers domaines d’application, de la recherche universitaire au contrôle des processus de semi-conducteurs.
Un seul nom: BRUKER, LE leader mondial dans le domaine !
UMT TRIBOLAB
Le nouvel outil de tribologie UMT TriboLab™ s’appuie sur plus de 20 ans de savoir faire dans le domaine, un héritage de polyvalence avec un concept modulaire qui exploite plus de fonctionnalités que jamais, le tout sans aucun compromis sur les performances. En fait, l’UMT TriboLab offre des vitesses plus élevées, plus de couple et une meilleure mesure de force que n’importe lequel de ses concurrents, et il introduit de nouvelles fonctionnalités puissantes pour une efficacité et une facilité d’utilisation améliorées.
Le modèle CMP TRIBOLAB il est particulièrement adapté à la R&D et à la caractérisation des matériaux.
DEKTAK XT
Le profilomètre mécanique DektakXT® présente une architecture révolutionnaire lui permettant une répétabilité inégalée de 4Å et jusqu’à 40% d’amélioration dans les vitesses de scan.
Les percées technologiques incorporées dans Dektak XT permettent des mesures de surface critiques au niveau nanométrique pour les industries de la microélectronique, des semi-conducteurs, du solaire, des LED à haute luminosité, de la médecine et des sciences des matériaux.
CONTOURX-200
Le profilomètre optique ContourX-200 un équipement de choix en métrologie de surface 3D sans contact: rapide, précis et répétable. Il offre des capacités de mesure 2D / 3D haute résolution à l’aide d’un appareil photo numérique FOV 5 MP et d’une nouvelle platine XY motorisée.
Le logiciel Vision64® du ContourX-200 offre une vaste bibliothèque de filtres et d’analyses préprogrammés pour les surfaces usinées avec précision, les films épais, les semi-conducteurs, l’optique, les dispositifs médicaux, les MEMS et les applications de tribologie.
Analyse de l’eau
« Quelle est la valeur de l’eau ? La question parait simple en apparence, mais il n’est en réalité pas facile d’y répondre. D’un côté, l’eau est, en effet, extraordinairement précieuse – parce que sans elle, la vie n’existerait pas. Mais d’un autre côté, elle est tenue comme une évidence acquise – si bien qu’elle est gaspillée chaque jour…L’eau, pour l’humanité, est visiblement une ressource illimitée, puisqu’on la traite sans parcimonie ni égards :
ce sont ainsi, selon des estimations, environ 80 % de toutes les eaux usées industrielles et municipales qui sont reversées dans l’environnement sans le moindre traitement « extrait du rapport unesco – 2021
Au vu de ce constat, et parce qu’elle a souhaité participer à sa hauteur à la préservation de ce trésor qu’est l’eau, la société Klearia a mis au point PANDa: un système portable extrêmement simple, précis et rapide contenu dans une simple mallette. Il s’agit du 1er analyseur de métaux dans l’eau sur le marché entièrement automatisé capable de mesurer au µg/l des échantillons réels!
PANDa – Portable ANalyzer for trace metals of Detection –
. Repose sur une technologie microfluidique exclusive et brevetée: le laboratoire sur puce, produit de la fonderie de KLEARIA, LabInGlass.
. Détecte des traces de métaux à une concentration extrêmement faible, à partir de 1µg/l soit 1ppb (parties par milliards).
. Aucune connaissance technique nécessaire pour utiliser PANDa.
. Résultats, Précision et Fiabilité équivalents aux laboratoires accrédités.
Contact
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Pépinière SoftTech
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